組件測(cè)試掃描儀
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產(chǎn)品名稱: 組件測(cè)試掃描儀
產(chǎn)品型號(hào): Model 13001
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
Model 13001 組件測(cè)試掃描儀
組件測(cè)試掃描儀
的詳細(xì)介紹
主要特色：
- 支持組件測(cè)試掃描用
- 單一主機(jī)支持8插槽模塊，*多可支持320通道
- 選配A130007 40 channels掃描模塊，支持絕緣電阻測(cè)試，其*高可輸入500V直流電壓(靜態(tài)耐壓)
- 透過(guò)主/從接口可做多臺(tái)聯(lián)機(jī)掃描，*多可支持8臺(tái)受控
- 可支持Chroma LCR表
- 可支持Chroma 3302/3252/11025圈數(shù)比(turn ratio)功能
- 可支持Chroma 11200電容漏電流/絕緣電阻表的絕緣電阻測(cè)試功能
- 標(biāo)準(zhǔn) RS232，GPIB與USB接口
- 可支持Chroma 8800組件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
- 支持ICT應(yīng)用測(cè)試
近幾年來(lái)由于組件變得更加復(fù)雜與多通道等復(fù)合性問(wèn)題，使測(cè)試?yán)щy與結(jié)構(gòu)變得復(fù)雜，增加人為錯(cuò)誤可能性與人力成本。Chroma 13001提供多信道掃描功能，搭配 Chroma 3302 / 3252 / 11022 / 11025 LCR 表做電感值、電容值、電阻值等量測(cè)，并包含圈數(shù)比 (turn ratio) 量測(cè) (如果LCR表有提供此功能)，也可以與 Chroma 11200 電容漏電流/絕緣電阻表配合絕緣電阻測(cè)試，并有專為漏感量測(cè)的短路設(shè)計(jì)。單臺(tái)可以支持8插槽模塊，當(dāng)搭配8個(gè)選配 A113007 的 40 Channels 掃描模塊，單臺(tái)可多達(dá)320通道。并提供主/從設(shè)計(jì)，客戶可經(jīng)由主機(jī)標(biāo)準(zhǔn)的RS-232、GPIB或USB接口控制主機(jī)本身輸出的測(cè)試回路，與包含外接擴(kuò)充高達(dá)8臺(tái)的受控主機(jī)的部份，以滿足客戶更多通道數(shù)需求。
Chroma 13001支持Chroma 8800組件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，提供多步驟的測(cè)試程序，滿足多樣化測(cè)試應(yīng)用，如提供RJ-45設(shè)備(包含LAN 模塊，Ethernet IC，PoE IC等)、玻璃基板(包含太陽(yáng)能板)、LCD 玻璃基板、玻璃印刷電路(包含觸控屏幕touch panel等)、PCB、電路基板、EMI Filter、充電電池測(cè)試、ICT應(yīng)用等應(yīng)用測(cè)試客戶?？梢越Y(jié)合 Chroma 8800組件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)提供過(guò)程控制與數(shù)據(jù)收集功能。搭配自動(dòng)化可節(jié)省人力成本、減少人為疏失錯(cuò)誤、提升數(shù)據(jù)管理質(zhì)量與效率。
