產(chǎn)品資料

誤碼率測試儀

如果您對該產(chǎn)品感興趣的話(huà),可以
產(chǎn)品名稱(chēng): 誤碼率測試儀
產(chǎn)品型號: BERTScope?
產(chǎn)品展商: 泰克Tektronix
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔

簡(jiǎn)單介紹

BERTScope? 誤碼率測試儀系列為測量串行數據系統的信號完整性提供了全新的方式。將眼圖分析與 BER 碼型生成結合起來(lái),使誤碼率檢測更快、更準確、更**。BERTScope? 誤碼率測試儀系列可方便隔離問(wèn)題字節和碼型序列,然后使用七種**誤碼分析功能,進(jìn)一步展開(kāi)分析,提供前所有未的統計測量深度。


誤碼率測試儀  的詳細介紹

型號屬于 BERTScope® 系列誤碼率測試儀 系列:

型號 說(shuō)明 *大位速率 報價(jià) 在線(xiàn)訂購或獲取報價(jià)
BSA85C 系列誤碼率測試儀 8.5 Gb/s $ 180,000 配置并報價(jià)
BSA125C 系列誤碼率測試儀 12.5 Gb/s $ 240,000 配置并報價(jià)
BSA175C 系列誤碼率測試儀 17.5 Gb/s $ 287,000 配置并報價(jià)
BSA286C 系列誤碼率測試儀 28.6 Gb/s $ 429,000 配置并報價(jià)
  • 概述
  • 探頭和附件
  • 軟件
  • 資料庫

功能

優(yōu)勢

碼型生成和誤碼分析、高達 28.6 Gb/秒的高速 BER 測量 在一臺儀器中同時(shí)提供生成和分析功能,為當今的第三代串行和 IEEE802.3ba、32GFC 通信標準提供接收機 BER 一致性測試。
集成的壓力發(fā)生器用于受壓眼圖靈敏度 (SRS) 和抖動(dòng)容限一致性測試。 測試信號的數據速率、應用的壓力和數據碼型都可以隨時(shí)更改且彼此獨立,允許多種信號變化來(lái)測試芯片組/系統靈敏度。
集成的 BER 關(guān)聯(lián)眼圖分析,并提供 PCI Express、USB、SATA 和其他通信標準的通過(guò)/不通過(guò)模板。 與其它 BERT 不同,提供熟悉的測試結果眼圖,并與標準特定的模板進(jìn)行對比,增強調試體驗。
在 PRBS 31 及高達 28.6 Gb/秒的其它數字信號上進(jìn)行誤碼定位和 BER 輪廓分析。 通過(guò) BER 迅速了解信號完整性。誤碼定位提供了詳細的 BER 碼型靈敏度,加快了確定性與隨機性 BER 誤碼的識別。
選配抖動(dòng)分離及定位功能可以在 DUT 輸入上快速進(jìn)行抖動(dòng)分解,準確進(jìn)行壓力校準。 用三角測量法快速有效地確定長(cháng)碼型 PRBS31 抖動(dòng)結構圖形表示讓抖動(dòng)分析更**、跟進(jìn)更簡(jiǎn)單。
可選的數字預加重處理器在碼型發(fā)生器提供的數據上提供用戶(hù)控制的預加重。 可以使用 PCI Express、10GBASE-KR、SATA、40GBASE-KR4、100GBASE-CAUI 標準信號進(jìn)行測試。
可選的時(shí)鐘恢復單元提供*大 28.6 Gb/s 的時(shí)鐘恢復。 根據高速串行和通信系統標準,進(jìn)行一致性測試及準確的眼圖分析。

 

誤碼率分析儀
主要特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)

  • 高達28.6 Gb/s 的碼型發(fā)生、誤碼分析和BER 測試能力
  • 經(jīng)校準的集成經(jīng)校準的集成壓力生成技術(shù),滿(mǎn)足多種標準壓力接收機靈敏度和時(shí)鐘恢復抖動(dòng)容限測試要求
    • *高100MHz 的正弦抖動(dòng)(SJ)頻率
    • 隨機抖動(dòng)(RJ)
    • 有界不相關(guān)抖動(dòng)(BUJ)
    • 正弦干擾(SI)
    • 擴展頻譜時(shí)鐘
    • PCIe 2.0和3.0接收機測試
    • IEEE 802.3ba和32G光纖通道測試
  • 加壓力的電眼圖測試包括:
    • PCI Express
    • 10/40/100Gb 以太網(wǎng)
    • SFP+/SFI
    • XFP/XFI
    • OIF/CEI
    • 光纖通道(FC8, FC16, FC32)
    • SATA
    • USB 3.0*
    • InfiniBand (SDR, QDR, FDR, EDR)
  • 抖動(dòng)裕量(Margin)測試、抖動(dòng)容限一致性模板測試
  • 快速輸入上升時(shí)間/高輸入帶寬錯誤檢測器,準確分析信號完整性
  • 物理層測試套件,支持模板測試、抖動(dòng)峰值、BER輪廓和Q因子分析,使用標準或用戶(hù)自定義抖動(dòng)容限模板庫進(jìn)行全方位測試
  • 集成的眼圖和BER相關(guān)分析
  • 抖動(dòng)分離及定位(Jitter Map)選件系統豐富的抖動(dòng)解析 – 支持長(cháng)碼型(如PRBS-31)抖動(dòng)三角測量,把基于BER的抖動(dòng)分解功能擴展到Dual Dirac TJ、DJ和RJ限制之外,**分解抖動(dòng)子成分
  • **的誤碼定位分析技術(shù)(Error Location AnalysisTM),迅速了解BER性能限制,評估確定性誤碼與隨機性誤碼,執行詳細的碼型相關(guān)誤碼分析,執行誤碼突發(fā)分析或無(wú)誤碼間隔分析

應用

  • 設計驗證包括信號完整性、抖動(dòng)和時(shí)序分析
  • 對高速串行系統、復雜設計的性能測試
  • 串行數據流和高性能網(wǎng)絡(luò )系統認證測試
  • 設計/ 驗證高速I(mǎi)/O 組件和系統
  • 信號完整性分析- 模板、峰值抖動(dòng)、BER 輪廓、抖動(dòng)分離及定位(Jitter Map)和Q 因子分析
  • 設計/ 驗證光發(fā)射接收機

多域觀(guān)測


 

眼圖一直作為系統性能簡(jiǎn)單、直觀(guān)的表現,但是很難和BER性能聯(lián)系起來(lái),因為測試儀器從根本上有很大的差別。示波器測量的眼圖是由較少的測試樣本組成,不容易發(fā)現一些罕見(jiàn)偶發(fā)的事件。誤碼儀 (BERT) 能夠對每一個(gè)比特計數,因此能夠提供基于很大量數據集樣本的測試,但是測試結果缺乏對信息的直觀(guān)的表征和故障排查。

BERTScope結合兩者的優(yōu)勢,允許快速、簡(jiǎn)單的觀(guān)測眼圖,并比傳統的眼圖測試樣本多至少多兩個(gè)數量級??梢园凑丈蠄D的例子中所示的那樣,通過(guò)簡(jiǎn)單的移動(dòng)BERT 的采樣點(diǎn),將光標放在感興趣的地方,使用強大的誤碼分析能力,獲得更多更深入的信息。例如,檢查碼型對當前上升沿影響的敏感程度?;蛘?,使用一鍵式BER 輪廓測量,檢驗是否性能問(wèn)題是有界的,或者可能會(huì )導致哪些故障。在每一個(gè)例子里,測試樣本碼型可以是231-1的偽隨機碼,可以幫助建立模型或者故障定位。

數據豐富的眼圖


BERTScope 測試光接口信號。在這個(gè)例子中自動(dòng)切換光域測量。

 

正如前面所示,BERTScope 在測量數據樣本深度方面與傳統的眼圖測試有著(zhù)巨大的差異。這個(gè)差異意味著(zhù)你能看到更加真實(shí)的情況,無(wú)論是什么樣的系統,更多低概率事件將會(huì )隨著(zhù)每次長(cháng)數據碼型運行而出現,不管是有隨機噪聲,還是從VCO引起的隨機抖動(dòng)。通過(guò)一鍵式的BER Contour、抖動(dòng)峰值和Q-因子測試,能夠增加對系統更深層次的認識,增加對設計的信心。

深度模板測試


由于可以改變采樣深度,因此BERTScope 即可以利用深度測量,得到高精度的系統的性能,又可以用少量樣本測試,和取樣示波器的測試結果匹配。在上圖所示的是光接口的眼圖測試。如果將BERTScope的采樣深度僅設置為3000 個(gè)波形,BERTScope 在1 秒鐘之內就能生成眼圖。測量得到的裕量有20%,和取樣示波器的測試結果一致。下面一點(diǎn)的圖顯示的是使用一致性輪廓測量得到的誤碼率水平為10-6的結果,模板裕量減少到17%。

 

眼圖測試樣本深度優(yōu)勢至少是模板測試的10倍。不像其他誤碼儀提供的“偽”模板測試那樣,BERTScope能對模板邊沿的每一個(gè)樣點(diǎn)進(jìn)行采樣,包括在眼圖之上和之下的區域。不僅如此,每一個(gè)點(diǎn)都能看到之前從未看到過(guò)的深度。這意味著(zhù)既是使用工業(yè)標準化模板或自定義模板持續測試幾秒鐘,也能確保被測設備沒(méi)有隱藏的問(wèn)題。

為工業(yè)標準提供高精度的抖動(dòng)測試

無(wú)論測試碼型的長(cháng)短,靠推算得到抖動(dòng)結果得方法是不能達到*高抖動(dòng)測量精度的。BERTScope 能快速測量誤碼率水平為10-9(高速信號可達10-10),或者等待儀器直接測量到10-12水平。對于這兩種測試方法,BERTScope 的一鍵式測量都嚴格符合MJSQ 定義的抖動(dòng)測試方法,并且BERTScope 中內部的延遲 控制是誤碼儀中*好的,可以確保抖動(dòng)測試的精度??墒褂脙冉ǖ亩秳?dòng)計算模型,包括TJ,RJ,DJ,或者將測試數據輸出,進(jìn)行自定義的抖動(dòng)建模分析。

BSA286C的低固有RJ可以同時(shí)滿(mǎn)足802.3ba的VECP(垂直眼圖閉合代價(jià))和J2/J9校準,并提供所需的重要裕量,**檢定100G以太網(wǎng)芯片。

模板一致性輪廓測試

目前許多的測試標準像XFP/XFI和OIF CEI等都定義模板測試,其目的是確保在誤碼率水平為10-12時(shí)眼的張開(kāi)度。一致性輪廓(等高線(xiàn))視圖可以方便的了解到在不同誤碼率水平下模板是否通過(guò)。

快速選型指南

型號 *大比特率 帶壓力眼圖 – SJ, RJ, BUJ, SI 類(lèi)型
BSA286C 28.6 Gb/s Opt. STR2 信號發(fā)生器/ 分析器
BSA260 26 Gb/s Opt. STR 信號發(fā)生器/ 分析器
BSA175 17.5 Gb/s Opt. STR 信號發(fā)生器/ 分析器
BSA125 12.5 Gb/s Opt. STR 信號發(fā)生器/ 分析器
BSA85 8.5 Gb/s Opt. STR 信號分析器

靈活的時(shí)鐘模式


BERTScope STR 選項的時(shí)鐘路徑

 

BERTScope 非常有特色時(shí)鐘產(chǎn)生路徑,為現實(shí)世界中不斷涌現出的設備提供了靈活的測試方案。無(wú)論是電腦插卡還是硬盤(pán),通常都需要提供子速率(sub-rate)系統時(shí)鐘,例如PCIExpress中100MHz的時(shí)鐘。為了能使被測系統正常工作,需要提供差分的系統時(shí)鐘,而且時(shí)鐘的幅度、偏置各有不同;BERTScope 內部提供靈活的分頻系數,其靈活構架可以完成各種時(shí)鐘的生成。


PCI Express Tx 端測量- 上面的截圖是用BERTScope 進(jìn)行的一致性測量。PCI Express 子卡插在一致性測試板中,BERTScope 提供正確幅度和偏置的100MHz 的差分信號作為時(shí)鐘。使用BERTScope CR(時(shí)鐘恢復模塊)為子卡輸出的數據信號按照一致性要求的環(huán)路帶寬進(jìn)行時(shí)鐘恢復。左上圖顯示的是被測設備通過(guò)了相應的測試模板。右上圖是該信號使用Q- 因子算法得到**的去加重平均幅度。下方的兩截圖是對于跳變位所做的同樣的測量。

 

擴頻時(shí)鐘(SSC)通常用于串行系統中,以減小EMI 的干擾。BERTScope可以調節的SSC的調制幅度、頻率和調制的輪廓,如三角波、正弦波等,因此允許測試任何一種使用SSC技術(shù)的一致性標準。還可使用額外的調制器和信號源產(chǎn)生耦合了高幅度、低頻率的正弦抖動(dòng)(SJ)的時(shí)鐘。

處理閉合的眼圖


BERTScope 的用戶(hù)界面設計友好、操作簡(jiǎn)單。上圖顯示的是不同tap權重對預加重影響的時(shí)域特性。下方的波特圖顯示是濾波器如何補償通道的損耗。

 

隨著(zhù)通道中電信號的數據率越來(lái)越快,通道的損耗經(jīng)常導致信號在Rx端的眼圖閉合。在實(shí)際的系統中,常使用Equalization(均衡)補償通道的損傷,以得到“張開(kāi)的眼圖”。Tektrnoix 提供了強大的工具來(lái)幫助設計者測試和鑒定Tx/Rx組件是否滿(mǎn)足標準。

對于Rx測試,DPP125數字預加重器為BERTScope增加了經(jīng)校準的預加重輸出,用以模擬Tx 端的預加重特性。預加重目前廣泛使用在10GBASE-KR, PCIe, SAS, DisplayPort, USB3.0 等標準中。

特點(diǎn):

  • 1-12.5Gb/s 時(shí)鐘頻率
  • 兩種型號分別支持3- 階或4- 階tap
  • 靈活的光標位置,允許預設光標和滯后光標
  • 選項ECM (眼圖張開(kāi)器、時(shí)鐘復用器、時(shí)鐘倍頻器)
PatternVu


PatternVu

 

PatternVu 選件是一套軟件實(shí)現的FIR 濾波器,能夠在眼圖顯示之前使用。在使用均衡的Rx 系統中,PatternVu 能夠觀(guān)測、測量在Rx 端均衡之后、判決之前信號的眼圖,即能將均衡的影響包含在測試結果中。均衡器*多允許有32個(gè)抽頭(tap),并且可以選擇每個(gè)UI 的抽頭(tap) 分辨率。

PatternVu還包括CleanEye功能,即碼型固定的、經(jīng)過(guò)平均處理后的眼圖,可以去除眼圖的非確定性抖動(dòng)分量。CleanEye能夠在存在大量Rj 的情況下,清晰的看到ISI 對系統的影響。

單次波形數據值輸出是PatternVu 的一個(gè)部分,能夠顯示所捕獲的固定碼型中的任意一個(gè)比特,非常類(lèi)似實(shí)時(shí)示波器中的單次捕獲功能。一旦被捕獲,波形數據能夠以多種格式輸出,以便使用其他工具進(jìn)行分析。

時(shí)鐘恢復


直觀(guān)用戶(hù)界面提供了對所有操作參數的簡(jiǎn)單控制。獨特的環(huán)路回饋視圖描繪了環(huán)路帶寬的特性-該圖是真實(shí)測量的結果,而不是數據設置過(guò)程

 

Tektronix的CR125A, CR175A, 和CR280A產(chǎn)品提供了靈活的一致性時(shí)鐘恢復方案。許多標準的抖動(dòng)測試要求使用指定環(huán)路帶寬的時(shí)鐘恢復。使用不確定或未知的環(huán)路帶寬將帶來(lái)錯誤的抖動(dòng)測量。Tektronix*新的時(shí)鐘恢復儀器能夠為各種標準測試提供簡(jiǎn)單、**的測量。

顯示和測量SSC 抖動(dòng)波形


SSC 波形測量


Tektrnoix CR 和CRJ 不受到BERTScope 的限制,還可以配合其他儀器使用,如取樣示波器或誤碼儀等??梢院推渌延械膬x器組成一致性測量系統。

 

擴頻時(shí)鐘(SSC)在*新的串行標準中經(jīng)常使用到,以減小EMI干擾,例如:SATA,PCI Express和下一代SAS。Tektronix CR家族支持擴頻時(shí)鐘的恢復,能夠顯示和測量SSC調制波形。包括了*大、*小頻率偏差(ppm或ps為單位)、調制變化率(dF/dT)和調制頻率等自動(dòng)化測量項目。也包括了數據速率的顯示以及簡(jiǎn)單易用的垂直、水平光標。

抖動(dòng)分析


抖動(dòng)頻譜測量

 

配有GJ選項的Tektronix CR125A、CR175A或CR286A,可以和取樣示波器或者誤碼儀一起使用多種時(shí)鐘恢復從1.2-11.2Gb/s進(jìn)行DCD 和實(shí)時(shí)抖動(dòng)頻譜分析。抖動(dòng)頻譜顯示頻率范圍從200Hz 到90MHz,可以使用光標進(jìn)行測量??梢允褂糜脩?hù)可設置的頻率限定進(jìn)行抖動(dòng)的帶限測量( 上圖例子中是P C IExpress2.0 預設的帶寬限制和抖動(dòng)測量)

Rx 端壓力眼圖測試


像進(jìn)行PCI Express2.0這類(lèi)的串行總線(xiàn)一致性Rx端壓力測試,通常需要用到多臺獨立的儀器和設備,不得不花幾個(gè)小時(shí)去設置儀器、連接被測設備。通過(guò)BERTScope一臺儀器,以及測試向導來(lái)控制所有的經(jīng)校準的壓力源,非常方便的進(jìn)行Rx 端的壓力測試- 這些都是在一臺儀器中完成的。該方案不需要外部電纜、混頻器、耦合器、調制器,減少了校準過(guò)程,大大簡(jiǎn)化了壓力測試的校準和測試。

 

外部連接的網(wǎng)絡(luò )隨時(shí)都在變化,這構成了Rx 端測試的一大挑戰。雖然像誤碼測試和Rx靈敏度測試非常的重要,但在現實(shí)世界,像10Gb/s的背板系統和其他高速總線(xiàn)的Rx 抖動(dòng)容限性能必須要考慮到。壓力眼圖測試(Stressed Eye Testing)現在在許多的工業(yè)規范中變得越來(lái)越常見(jiàn)。另外,工程師可以利用壓力眼圖測試來(lái)發(fā)現Rx端接收性能的極限,用以檢查系統在設計和生產(chǎn)過(guò)程中的裕量。

靈活的產(chǎn)生信號損傷


各種的壓力損傷


許多標準要求測試在不同頻率、不同幅度、不同調制的SJ 對Rx 的影響。BERTScope 內建的抖動(dòng)容限功能通過(guò)用戶(hù)自定義的容限模板,自動(dòng)的完成這項測試。同時(shí),BERTScope 還提供了許多標準的測試庫供用戶(hù)使用。

 

BERTScope 內建了高質(zhì)量、經(jīng)校準的各種信號損傷源,包括RJ、SJ、BUJ 和SI。

ISI 是許多標準中常見(jiàn)的信號損傷類(lèi)型。BSA12500ISI 差分ISI板提供了可變的鏈路長(cháng)度,產(chǎn)生各種ISI 干擾。


壓力眼圖測試選項


BERTScope 碼型發(fā)生器

 

BSA125, BSA175, 和BSA286 系列碼型發(fā)生器提供了完整的PRBS 碼型發(fā)生功能,支持標準和自定義碼型。STR 選項可以產(chǎn)生集成的、經(jīng)校準的壓力信號,可以替代傳統多儀器、手動(dòng)校準的方案。

碼型捕獲


碼型捕獲

 

對未知的輸入數據有幾種處理方法。對于上面所討論的實(shí)時(shí)在線(xiàn)數據分析,BERTScope 還提標配了一個(gè)非常有用的功能-碼型捕獲。該功能允許用戶(hù)指定重復碼型的長(cháng)度,BERTScope連續的捕獲指定長(cháng)度的數據,長(cháng)度可達128Mb。這筆數據可以作為新的判決器的參考碼型,可以編輯、保存以便未來(lái)使用。


強大的誤碼分析功能- 在這個(gè)例子中,眼圖測試結果和BER 聯(lián)系在一起,發(fā)現并解決了內存控制芯片的一個(gè)問(wèn)題。左上角的眼圖顯示了在信號在十字交叉區域出現比正常眼圖所少見(jiàn)的特征。接著(zhù)將BER 判決點(diǎn)移動(dòng)到該區域上仔細勘察。誤碼分析結果顯示出問(wèn)題特征和碼型中第24 個(gè)標記位有一定的聯(lián)系。進(jìn)一步調查發(fā)現和IC 內部的時(shí)鐘分頻有關(guān);系統時(shí)鐘是輸出數據速率的24分頻。重新設計芯片中增大了對時(shí)鐘鏈路的隔離后,就能得到右下角所示的干凈眼圖。

 

抖動(dòng)測量


MJSQ 標準Dual Dirac 抖動(dòng)測量

 

數據速率在Gb/s 的信號其眼寬就幾百個(gè)皮秒,甚至更少。因此**的抖動(dòng)測量是控制抖動(dòng)預算的重要部分。BERTScope提供兩套工具來(lái)完成這些重要抖動(dòng)測試。

物理層測試套件使用廣泛認可的Dual Dirac方法測試總體抖動(dòng)(Total Jitter)和對總體抖動(dòng)的分離,隨機抖動(dòng)(RJ)、確定性抖動(dòng)(DJ)。BERTScope 采用的是誤碼儀的方法采集數據,樣本深度遠大于示波器測試抖動(dòng)時(shí)所采集的樣本深度,并很少采用推算的方法測量抖動(dòng)。從根本上講,這種方法的測試精度比高度依靠推算的方法的精度要高很多。


抖動(dòng)分離及定位(Jitter Map)

 

選件抖動(dòng)分離及定位(Jitter Map) 是BERTScope 上*新的抖動(dòng)測量套件。該套件提供了復雜的分析子集,除了RJ和DJ 之外,還包括了許多更高速的標準一致性測試中定義的抖動(dòng)測量。選件抖動(dòng)分離及定位(Jitter Map) 能在長(cháng)碼型上(例如PRBS31)進(jìn)行抖動(dòng)測量和分離,也支持非PRBS 的實(shí)時(shí)在線(xiàn)數據抖動(dòng)分析(需要實(shí)時(shí)數據分析選件)。

主要特性包括:

  • DJ 分解為有界不相關(guān)抖動(dòng)(BUJ),數據相關(guān)抖動(dòng)(DDJ),碼間干擾抖動(dòng)(ISI),占空比失真抖動(dòng)(DCD),包含F/2 抖動(dòng)在內的子速率抖動(dòng)(SRJ)
  • 基于誤碼測試(非推算)的TJ測量,誤碼率水平可以到10-12甚至更小
  • 區分相關(guān)和非相關(guān)性抖動(dòng)分量,減小對長(cháng)碼型的DDJ 和RJ測試的混淆
  • 可以測量*小眼張開(kāi)度的抖動(dòng)
  • 增加了其他儀器所沒(méi)有的抖動(dòng)測試項目:加重抖動(dòng)(EmphasisJitter),非相關(guān)抖動(dòng)(Uncorrelated Jitter),數據相關(guān)性脈寬損耗(DDPWS)和非ISI 抖動(dòng)
  • 直觀(guān)的抖動(dòng)分離樹(shù)顯示

接口卡在線(xiàn)測試


Jitter Peak and BER Contour measurements made on live data.

 

BERTScope 提供的實(shí)時(shí)數據分析選項可為高速線(xiàn)卡、主板和實(shí)時(shí)的數據提供物理層測量。BERTScope 采用了新型的雙判決(Dual-decision)系統,可以進(jìn)行參數測量,如一致性標準的眼圖測試、抖動(dòng)、BER 輪廓和Q- 因子等- 所有的這些測試都需要時(shí)鐘信號。Jitter Map 選項能夠對實(shí)時(shí)的數據進(jìn)行深入的抖動(dòng)的解析,而無(wú)需對不知道碼型長(cháng)度、或者無(wú)法預知數據流中插入的閑散符號而感到無(wú)助。故障定位和調試變得非常的簡(jiǎn)單,只要按一個(gè)鍵就能洞察被測系統物理層的情況。

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