Tektronix PPG3000 系列可編程碼型發(fā)生器至多提供 4 個應力碼型發(fā)生通道，以便進行高速數據通信測試。
可編程碼型發(fā)生器PPG3201關鍵性能指標
- 低固有抖動（典型 Rj <300 fs）
- 8 ps 典型 20% 至 80% 上升時間/下降時間（PPG3200 固定輸出模型）
- 12 ps 典型 20% 至 80% 上升時間/下降時間（帶有選項 ADJ 的 PPG3200）
- 可變輸出幅度：
- 300 mV 至 1.0 V（帶有選項 ADJ 的 PPG3200）
- 250 mV 至 2.0 V （PPG3000 系列）
- 低頻高幅度抖動插入范圍在 5000 UI 處為 10 Hz 至 10 MHz（帶有選項 LFJIT 的 PPG3200 系列）
- BUJ 幅度高達 60 psp-p，調制率高達 2.5 Gb/s（帶有選項 HFJIT）
- 35% 至 65% 可編程交叉點（PPG3000 系列）
主可編程碼型發(fā)生器PPG3201要功能
- 提供 1、2 或 4 條 30 Gb/s 或 32 Gb/s 輸出通道（所有通道上的獨立數據）
- 當與 PED 系列誤碼檢測器配對時，提供完整端到端多通道誤碼率測試解決方案
- 抖動插入選項包括 BUJ、SJ、RJ 和 PJ
- 在多通道設備上對齊數據
- 內置全速可調節(jié)時鐘源
- 直流耦合差分數據輸出
- 可編程輸出幅度、偏置和交叉點
- PRBS 和用戶定義碼型
- 可調節(jié)通道間相位延遲
- 前面板觸摸屏 GUI 或 USB 計算機控制
可編程碼型發(fā)生器PPG3201應用
- 100 G 以太網的多通道 25 Gb/s 測試
- DQPSK 和 DP-QPSK 測試
- CFP2 和 CFP4 測試
- 多電平壓力信號測試
- 半導體和器件測試
可編程碼型發(fā)生器PPG3201產品說明
泰克 PPG 系列高性能碼型發(fā)生器提供單通道和多通道配置，能夠支持高達 32 Gb/s 的數據速率。通過選配抖動插入，PPG 系列提供了靈活、經濟、簡便易用的測試解決方案，支持各種高速應用，如 100 G 以太網、32G 光纖通道、PAM4 DP-QPSK 測試和各種接收機測試應用。 單臺儀器支持時間對齊和碼型獨立的多通道數據輸出，實現抗串擾能力測試和多通道功能測試。 PPG 系列可與泰克 PED 系列錯誤檢測器產品配套使用，提供完整的 BER 測試功能。
數據速率可以在大范圍內編程確定。 （圖中是 32 Gb/s 版本）輸出可以是內置 PRBS 碼型，也可以是編程產生的用戶數據碼型。
使用 PPG3000 系列碼型發(fā)生器和 PED3200 系列誤碼檢測器進行 100G 以太網四通道端到端測試
PPG3202 2-通道碼型發(fā)生器，配有適用于 PAM4 信號操作的外部合路器
PPG3204 4-通道碼型發(fā)生器，配有適用于 DP-QPSK 測試的泰克相干光信號分析儀
32 Gb/s 和 14 Gb/s 編程產生的數據
可以獨立編程的輸出通道支持進行全方位多通道測試。 數據輸出擁有 100 ps 的可調節(jié)時延/延遲范圍（獨立于通道）。 （圖中是 32 Gb/s 版本。）
32 Gb/s 時的四通道獨立輸出數據
內置 PRBS 和編程產生的用戶數據
32 Gb/s 自定義用戶數據，顯示 0 ps、-50 ps 和 +50 ps 的編程產生的數據時滯值
